暂无
| 仪器特点 | 
					1.低载荷测量( 0.1mN)。能够产生和测量施加到样品表面或端面很低的试验载荷0.1mN (分辨率0.2μN)。  | 
| 技术指标 | 
					荷重范围:0.1 mN~1961mN(0.01~200gf); | 
| 应用方向 | 可以测试半导体、LSI、陶瓷、硬碟、蒸镀薄膜、树脂涂层等一般试验机不能对应的微小领域的材料强度。也可用于塑胶、橡胶等的强度测试 | 
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| 仪器特点 | 
					1.低载荷测量( 0.1mN)。能够产生和测量施加到样品表面或端面很低的试验载荷0.1mN (分辨率0.2μN)。  | 
| 技术指标 | 
					荷重范围:0.1 mN~1961mN(0.01~200gf); | 
| 应用方向 | 可以测试半导体、LSI、陶瓷、硬碟、蒸镀薄膜、树脂涂层等一般试验机不能对应的微小领域的材料强度。也可用于塑胶、橡胶等的强度测试 |